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Bruker D6 x射線衍射儀 參考價：面議
bruker D6 PHASER是一個開創性的臺式X射線衍射平臺，它兼具可操作性與靈活性。與傳統臺式衍射儀不同的是，D6 PHASER提供了超越粉末衍射的優良分...
Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀 參考價：2000000
基于D8衍射儀系列平臺的D8 ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數（PDF）分析小角X射線散射...
Bruker D8 DISCOVER x射線衍射儀 參考價：1
Bruker D8 DISCOVER x射線衍射儀購買，聯系上海爾迪儀器科技有限公司
Bruker XRD 布魯克 JV-DX X射線衍射儀 參考價：面議
Bruker布魯克 JV-DX X射線衍射儀 XRD——X射線測量滿足您的研發需求Jordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工藝開發和質量...
Bruker布魯克 XRD JV-QCVelox X射線衍射儀 參考價：面議
Bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD——用于 LED 和外延層晶圓分析的生產專用高分辨率 X 射線衍射系統
Bruker Dektak Pro布魯克臺階儀 參考價：面議
Bruker Dektak Pro布魯克臺階儀Dektak Pro™ 以其多功能，使用的便捷性和在薄膜厚度、臺階高度、應力、表面粗糙度和晶圓翹曲測量...
布魯克三維光學輪廓儀ContourX-1000 參考價：面議
布魯克三維光學輪廓儀ContourX-1000落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 統 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 ...
布魯克bruker臺階儀 參考價：面議
布魯克bruker輪廓儀 利用*的直接驅動掃描樣品臺，將測量時間加快 40%，同時保持行業的性能。Vision64 是布魯克的 64 位并行處理操作和分析軟件，...
bruker布魯克摩擦磨損試驗機UMT TriboLab 參考價：面議
布魯克通用機械測試儀 （UMT） 平臺自 2000 年推出型號以來，一直是市場上功能全、使用廣泛的摩擦儀。現在，新設計的bruker布魯克摩擦磨損試驗機UMT ...
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-500 參考價：面議
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-500是全面的快速，非接觸式3D表面計量自動化臺式系統。該系統集成了布魯克專有的自動傾斜光學測頭，可以*編程并...
Bruker高分辨原子力顯微鏡MultiMode 8 參考價：面議
MultiMode® 測試平臺作為歷史悠久的經典機型，由于其分辨率與性能享譽至今。Bruker布魯克原子力顯微鏡MultiMode 8通過高速Peak...
Bruker布魯克原子力顯微鏡 參考價：1000000
Bruker Dimension® Icon™原子力顯微鏡為工業界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的應用體驗，具有高水平的性能、功能和配...
布魯克bruker輪廓儀 參考價：面議
布魯克bruker臺階儀輪廓儀Dektak XTL 探針式輪廓儀可容納高達 350mm x 350mm 的樣品，為大型晶圓和面板制造帶來Dektak ®...
rtespa - 150 bruker 原子力顯微鏡探針 參考價：1
rtespa - 150 bruker 原子力顯微鏡探針幾何■矩形齒頂圓角半徑nm尺寸:8最大:12
SCANASYST-FLUID bruker 原子力顯微鏡探針 參考價：1
【SCANASYST-FLUID探針】bruker 原子力顯微鏡探針 ScanAsyst-Fluid探針具有故意設計的鈍尖，非常適合于力測量和流體中極其精細的樣...
rtesp - 300探針 bruker 原子力顯微鏡探針 參考價：1
rtesp - 300探針 bruker 原子力顯微鏡探針懸臂規范幾何形狀矩形懸臂梁數量:1懸臂厚度(Nom):3.4um懸臂厚度(RNG:265~4.15m
bruker 布魯克 NPFLEX-1000三維光學輪廓儀 參考價：面議
布魯克 NPFLEX-1000三維光學輪廓儀該系統采用開放式龍門架設計，具有300mm 的樣品臺與目鏡間距，因此能夠在各種形狀和尺寸的樣品上輕松測量微觀及宏觀特...
Bruker隧穿磁比率測量儀 參考價：面議
布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber TT具有平面內磁鐵的低成本臺式 CIPT 系統，適用于研究和開發這種低成本的臺式設備配有手動 xy 定...
Bruker隧穿磁比率測量儀 參考價：面議
布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber-P1——用于企業研發和故障分析中 300mm 晶圓應用的電動系統
Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE 參考價：面議
Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE——用于幾乎所有先進薄膜或產品晶片測量的先進多模計量FilmTek™ 2000標準桿數-SE...
Bruker FilmTek CD橢偏儀 參考價：面議
Bruker FilmTek CD橢偏儀——多模態臨界尺寸測量和先進薄膜計量學FilmTekTM CD光學臨界尺寸系統是我們解決方案，可用于1x nm設計節點及...
Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV 參考價：面議
Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSVFilmTek™ 2000M TSV計量系統為先進的半導體封裝應用提供了速度和精度組合。該系...
Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SE 參考價：面議
Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SEFilmTek™ 6000標準桿數-SE先進的多模薄膜計量系統在1x nm設計節點和更高的...
Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight CAP 參考價：面議
Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSightCAP——緊湊型高性能剖面儀和AFM
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